如今，半导体广泛应用于各类电子产品中，它们决定着从车辆安全到物联网(IoT)的快速发展，管理着电动汽车充电站、智能农业和环境监测等。由于此类产品的敏感性，尤其是在高安全性应用中，使用灵活可靠的自动开关系统进行严格测试面临巨大挑战。

几十年来，开关一直是Pickering的核心专业领域。与竞争对手不同的是，我们直接与半导体测试和制造公司合作，与工程师直接合作，并提供可扩展、可持续、符合规格和成本效益的专业解决方案。

针对半导体应用的定制测试

Pickering's Wafer Acceptance Test 晶圆验收测试 (WAT)
High Pin Count Package Testing 高引脚数封装测试
Microwave Testing 微波测试

晶圆验收测试|保护层切换 (Switched Guard)

晶圆验收测试（WAT）是一种测试策略，用于检查半导体制造过程的一致性。通过在工艺开发和生产测试阶段对晶圆进行一系列相对简单的参数测试，晶圆厂工程师能够快速获得有助于改善良率的统计数据。

这些测试通常包括在亚pA范围内进行电流测量。为了最小化漏电流误差，通常采用“保护层驱动 (Driven-Guard)”测量技术，并需要设计保护层切换(Switched Guard)来适应开关系统。

优势： 

  • Switched Guard设计，具有超高隔离度，最高可达 1013Ω
  • 超低漏电流，低至100fA (10-13)
  • 可扩展到高引脚数应用
  • 低成本并具有极小尺寸
Wafer Acceptance Testing
High Pin Count Package Testing

高引脚数封装测试

被测器件(DUT) 极高引脚数IC和插座，需要在极端温湿度和机械应力环境中进行漫长的循环测试以验证其可靠性。在每个施加应力周期期间或之后，会对DUT进行参数测试，测试通常由一个或多个源/测量单元(SMU)执行，测试项目从简单的开路和短路测试到扫描电流与电压(IV)测量。

例如，在验证最新的服务器CPU封装时，由于设备引脚总数达到数百甚至数千个，因此高引脚数量的自动开关系统对于快速可靠地连接测试仪器到每个引脚至关重要。

优势：

  • 可扩展，测试超高引脚数(4K+)封装和设备
  • 使用多组内部模拟总线，进行并行测试以提高吞吐量
  • 能够将测试序列加载到单元中，并利用触发功能进行测试项切换，减少测试时间

微波测试

微波测试在半导体测试设备行业中扮演着至关重要的角色，其工作频率范围从直流到60GHz及以上。测试类型包括散射参数测量、矢量网络分析(VNA)、晶圆测试、噪声系数测量、无线通信系统功率放大器的测试以及高频互连和半导体器件上传输线的检测。

在测试设备之间连接测试仪器时，需要使用开关。在过去的35年里，Pickering一直致力于开发自动化微波开关系统，在测试与测量行业中拥有最全面的解决方案。

优势：

  • 三种构建选项：模块化的标准货架产品、灵活的RFIU开关平台和交钥匙解决方案
  • 支持多种继电器技术 (MEMS、EMR、固态)
    • 高品质的EMR
    • MEMS 方案 —— 更广的频率范围，更低的插入损耗，高速切换速度和超长使用寿命
  • 使用我们的 Switch Path Manager信号路由软件
Microwave Testing

为什么选择Pickering的开关解决方案?

  • 高灵活性和高可扩展性的模块化解决方案
  • 数千种开关产品，从直流到光波，能完全匹配您的应用
  • 更快的测试速度，提高生产线吞吐量的仪器级舌簧继电器、EMR 、MEMS和固态继电器开关
  • 更小尺寸，更低成本
  • 缩短测试系统开发时间

强大和易于使用的软件控制环境

Pickering提供了兼容性极佳的硬件和软件，测试系统开发人员可以将其与任何半导体测试软件平台一起使用。模块化、灵活的开关和仿真解决方案支持所有主要软件平台（包括MATLAB、Simulink、LabVIEW、Python和各种实时操作系统），为您提供所需无缝集成应用程序的数据。

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